產(chǎn)品詳情
光電材料是整個(gè)光電產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)和先導(dǎo)，光電材料已由材料發(fā)展到薄層、超薄層及納米微結(jié)構(gòu)材料，并正向集材料、器件、電路為一體的功能系統(tǒng)集成芯片材料、有機(jī)/無(wú)機(jī)復(fù)合、有機(jī)/無(wú)機(jī)與生命體復(fù)合和納米結(jié)構(gòu)材料方向發(fā)展。作為科學(xué)領(lǐng)域研究的核心之一，科學(xué)家對(duì)光電器件和材料的研究從未停止。
近年來(lái)，柔性顯示屏、電子皮膚、有機(jī)電致發(fā)光器件（OLED）、有機(jī)光伏器件（OPV）、有機(jī)場(chǎng)效應(yīng)晶體管（OFET）和金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管（MOSFET）均取得突破性進(jìn)展。
在光電器件和材料的研究和應(yīng)用中，電性能表征是關(guān)鍵性的環(huán)節(jié)之一。實(shí)施分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具就是數(shù)字源表。數(shù)字源表作為獨(dú)立的電壓源或電流源,可輸出恒壓、恒流、或者脈沖信號(hào),還可以當(dāng)作表,進(jìn)行電壓或者電流測(cè)量;支持Trig觸發(fā),可實(shí)現(xiàn)多臺(tái)儀表聯(lián)動(dòng)工作;針對(duì)光電器件單個(gè)樣品測(cè)試以及多樣品驗(yàn)證測(cè)試,可直接通過(guò)單臺(tái)數(shù)字源表、多臺(tái)數(shù)字源表或插卡式源表搭建完整的測(cè)試方案。
普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具。不論使用者對(duì)源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結(jié)果。數(shù)字源表IV測(cè)試光電二極管電性能認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；
P系列脈沖源表特點(diǎn)
?5寸觸摸顯示屏全圖形化操作
?內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV
?源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5位半
?四象限工作（源和阱），源及測(cè)量范圍廣：電流低至1pA，電壓高至300V
?Z小脈沖寬度100uS
?豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
?支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
?支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
P系列脈沖源表應(yīng)用
?納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等
?有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等
?能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
?分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等
?傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等
數(shù)字源表IV測(cè)試光電二極管電性能訂貨信息
